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日本NFLCR测试仪ZM系列概述
测量范围覆盖从1mHz低频领域到5.5Hz高频领域
实现了快速且偏差小的稳定测量，可对应从材料研究到零部件生产线等的各种用途
日本NFLCR测试仪ZM系列偏差小的高再现性测量示例
按照以下条件使用ZM2372和ZM2376，对1nF的电容反复测量200次后得到的结果。
使用ZM2376，测量的再现性得到了进一步提高。
早在1959年，高精度的负反馈控制技术尚未在日本国内普及，我们就已经以此为基础，根据“凡是社会需要的，就是我们要创造的新产品”的理念，创建了NF公司。此后，我们继承和发扬了这一先驱精神，积极探索尚未被人们了解的新领域，不断创新并提供独有产品，为新一代的产品开发和社会发展做出我们的贡献。NF的技术涉及到极其广阔的领域，包括汽车和数字家电等尖端电子技术、燃料电池和太阳能发电等清洁能源技术、纳米技术、以及人造卫星和火箭等宇航技术。今后，我们仍将继续钻研技术，不断地为未来的科技发展提供高新技术产品。
产品详情：https://www.chem17.com/st384758/product_30152293.html
http://www.suzhouhcj.com/Products-30152293.html
NF LCR测试仪